JaSSTソフトウェアテストシンポジウム

JaSST'10 Tokyo開催日:2010年1月28日(木)〜29日(金)

JaSST'10 Tokyo は2日間で延べ1500人にもおよぶ方にご参加いただき、盛況のうち終了しました。
ご参加、ご協力いただいた皆様、有難うございました。

掲載されていない資料については、講演者の都合により公開できないものも含まれています。あしからずご了承下さい。
写真:会場内
(写真:会場内)

・プログラム・セッション概要

プログラムは こちら (PDF:772KB)をご覧下さい。

写真:オープニングセッション 写真:クロージングセッション1 写真:クロージングセッション2

(写真:左/オープニングセッション 中央・右/クロージングセッション)

当日会場での各セッションの概要は こちらをご覧下さい。

・善吾賞

〜「善吾賞」のご案内〜

善吾賞は、ソフトウェアの品質向上に寄与する学術的な論文を顕彰するものです。
今年も、JaSSTの投稿論文(JaSST'10東京、JaSST'09関西、北海道、九州)、情報処理学会(論文誌、研究会、全国大会、シンポジウム)、電子情報通信学会(論文誌、研究会、大会)、FIT(情報科学技術フォーラム)、 日科技連(シンポジウム(SQiP))、日本品質管理学会(論文誌)などで、2008年10月から2009年9月までに発表された論文を対象に、ASTER善吾賞選考委員会が選出しました。

■設計モデルを用いたテスト項目抽出とテストデータ生成手法
張 暁晶 (NTTサイバースペース研究所)
星野 隆 (NTTサイバースペース研究所)
写真:善吾賞

・ベストスピーカー賞

■ITプロジェクトのためのなぜなぜ5回(階)
−現場と組織が共に問題解決するためへの提言−
小原 由紀夫 (富士通アドバンストエンジニアリング)
写真:ベストスピーカー賞

・基調講演

「Successful Software Management: 17 Lessons Learned
成功するソフトウェア・マネジメント: 17の教訓」
Johanna Rothman (Rothman Consulting Group, Inc.)
写真:基調講演

・チュートリアル1

■Becoming an Agile Tester in a Waterfall World
ウォーターフォール・ワールドでアジャイル・テスターになる
Johanna Rothman (Rothman Consulting Group, Inc.)
写真:チュートリアル1

・チュートリアル2

■現場に強い、実践テストマネジメント
佐々木 方規 (ベリサーブ)
写真:チュートリアル2

・クイズ$テスモネア

司会:
山浦 恒央 (東海大学)
松木 晋祐
菅間 直樹
伊藤 拓也
写真:クイズ$テスモネア

・招待講演

■品質という王道を行こう
誉田 直美 (日本電気)
写真:招待講演

・ライトニングトークス

〜テスト芸人のこだわり自慢〜
参加者:
今村 哲也
田中 聖能 (富士通周辺機)
近美 克行 (シーイーシー)
時本 永吉 (日本システムディベロップメント)
安隨 正巳 (日本科学技術連盟)
小池 輝明 (NECネクサソリューションズ)
辰巳 敬三 (高度情報通信人材育成支援センター)
おおの ゆか (TEF東海)
渡辺 のぼる (SESSAME/Afrel)
和田 憲明 (富士通)
ドラ娘☆
永田 祐子 (永和システムマネジメント)
写真:ライトニングトークス1 写真:ライトニングトークス2
写真:ライトニングトークス3 写真:ライトニングトークス4

・ミニパネル

■テスト会社とツールベンダの微妙な関係 〜競合か協調か〜
モデレータ :
  • 西 康晴 (電気通信大学)
パネリスト :
  • 江澤 宏和 (ベリサーブ)
  • 大山 相達 (V&V)
  • 小ア 将弘 (日本ヒューレット・パッカード)
  • 東 大輔 (日本ノーベル)
写真:ミニパネル

・テストスキル標準

■テストのスキル標準
佐々木 方規 (IVIA)
西 康晴 (ASTER)
鈴木 三紀夫 (ASTER)
渡辺 登 (IPA/SEC)
写真:テストスキル標準1 写真:テストスキル標準2

・テスト方法論

■魁!!智美塾 〜 百"家"繚乱!テストメソドロジ進化論!
塾長:
  • 吉澤 智美
一号生:
  • 西 康晴
  • 湯本 剛
塾生:
  • 小山 竜治
  • 杉田 正実
  • 松木 晋祐
写真:テスト方法論

・レビュー

■レビューのコツは"なんでやねん!?"〜レビュー眼〜
角口 勝隆 (日立システムアンドサービス)
新美 崇宏 (データプロセス)
(*司会:森崎 修司 (奈良先端科学技術大学院大学))
写真:レビュー

・初心者セッション

■初心者セッション
片山 徹郎 (宮崎大学)
長谷川 聡 (北都システム)
写真:初心者セッション1写真:初心者セッション2

・クロージングパネル

■テストのマネジメントから品質のマネジメントへ
〜消耗し尽くすプロジェクトから蓄積できるプロジェクトへ〜
モデレータ:
吉澤 智美 (NECエレクトロニクス)
パネリスト:
Johanna Rothman (Rothman Consulting Group, Inc.)
誉田 直美 (日本電気)
飯泉 紀子 (日立ハイテクノロジーズ)
写真:クロージングパネル1写真:クロージングパネル2写真:クロージングパネル3写真:クロージングパネル4

・論文・事例・招待発表

効率的な『項目外評価』体制の構築を目指して
−デジタルハーツの「能動的デバッグ」のノウハウについて−
川口 兼一郎 (デジタルハーツ)
写真:論文・事例発表C2-1
テストにおける勘の考察
野村 卓司 (三菱電機システムサービス)
写真:論文・事例発表C2-2
キーワードベースドレビュー
−ドキュメントのあいまいさや不備に着目したレビュー手法−
河野 哲也 (電気通信大学大学院)
写真:論文・事例発表C2-3
アジャイルインスペクションの実際
永田 敦 (ソニー)
写真:論文・事例発表C2-4
状態遷移表を用いた状態遷移テストの自動化
保坂 信幸 (インクス)
テスト条件生成支援ツールの開発 CEGTest
加瀬 正樹 (ニフティ)
写真:論文・事例発表D-2
組込みリアルタイムOSのAPIテストの実施
鴫原 一人 (名古屋大学)
写真:論文・事例発表D2-3
マルコフ連鎖モンテカルロ法によるソフトウェアテストケースの設計
岡村 寛之 (広島大学)
テスト技術者のためのソフトウェアメトリクス入門
- 信頼性を測定し予測する正しい作法 -
野中 誠 (東洋大学)
鷲崎 弘宜 (早稲田大学)
写真:論文・事例発表D4-1
写真:論文・事例発表D4-2
『スープカレー方式』によるシステムテスト分析と設計
上田 和樹 (TEF北海道テスト勉強会)
写真:論文・事例発表A5-1
オフショア開発におけるテスト改善
−オフショア版テスト改善「3点セット」の紹介−
鈴木 三紀夫 (TIS)
写真:論文・事例発表A5-2
使える「テスト設計テンプレート」を目指して
下前 真浩 (日本電気通信システム)
根間 才治 (NEC情報システムズ)
写真:論文・事例発表A5-3a
写真:論文・事例発表A5-3b
失敗しない効率的な負荷テスト実施のコツ
−大規模開発プロジェクトにおける性能テストの実践方法−
東條 義幸 (TIS)
写真:論文・事例発表A5-4
"現地流出不具合0件"を目標とした取り組みについて
−品質向上の促進と質の高い評価を実施する為に−
佐藤 英明 (国際通信企画)
リスク・ベース・テストに基づくテスト自動化戦略の策定
上甲 貴広 (日本IBM)
写真:論文・事例発表D5-2
ITプロジェクトのためのなぜなぜ5回(階)
−現場と組織が共に問題解決するためへの提言−
小原 由紀夫 (富士通アドバンストエンジニアリング)
写真:論文・事例発表D5-3
マジカルスプーンを対象としたテスト構成管理の実例
北條 哲 (東陽テクニカ)
写真:論文・事例発表D5-4

・テクノロジーセッション

オフショアコードの見える化事例
〜アーキテクチャ分析支援ツールを使って、言葉の壁を乗り越える〜
酒井 郁子 (ビースラッシュ)
提供:東陽テクニカ
不具合リスクとビジネスインパクトの分析
安竹 由起夫 (コベリティ日本支社)
写真:テクノロジーセッションD5-2
状態遷移モデルを活用した赤外線自動テスト装置の紹介
田村 政和 (キャッツ)
写真:テクノロジーセッションC3
ソース解析ツールの活用による品質確保と全体品質の管理・統制方法
佐々木 孝次 (富士通ソフトウェアテクノロジーズ)
提供:富士通
写真:テクノロジーセッションD3
単体テスト設計手法「要素分析」と標準プロセス化ツールについて
〜大規模開発向け単体テストツール「ユニットマスター」の紹介〜
嶋田 卓尚 (ガイオ・テクノロジー)
写真:テクノロジーセッションF3-1
大規模ソフトウェア開発へのツール適用のご提案
植田 宏 (エーアイコーポレーション)
日本オラクルの品質への取り組み
〜 Oracle Database製品の品質向上に向けて 〜
中島 良樹 (日本オラクル)
写真:テクノロジーセッションA6
これからのテスト
〜アジャイル開発における品質管理のアプローチ
岡崎 義明 (日本ヒューレット・パッカード)
写真:テクノロジーセッションB6
要求管理から改修、テストまで、アプリケーション・ライフサイクルから考えるプロジェクトのあり方
増田 聡 (日本IBM)
写真:テクノロジーセッションC6
検証ビジネスのオフショア展開
野澤 幸弘 (NEUSOFT Japan)
QualityCommander 5 の新機能と新たなサービス展開
東 大輔 (日本ノーベル)
写真:テクノロジーセッションD6-2
Windows Embedded CEに見る、組込み開発テスト環境
中田 佳孝 (安川情報システム)
提供:マイクロソフト
写真:テクノロジーセッションF6-1
ソフトウェアメトリクスを活用した品質管理
佐伯 剛幸 (日本電気)

・JaSST'10 Tokyo 開催要項

日程
2010年1月28日(木)〜29日(金)
場所
目黒雅叙園 (東京・目黒)
参加費
1日券5,250円 (税込)
2日券8,400円 (税込)
( チュートリアルを受講される場合 )
1日券+チュートリアル1受講券21,000円 (税込)
1日券+チュートリアル2受講券15,750円 (税込)
2日券+チュートリアル1受講券24,150円 (税込)
2日券+チュートリアル2受講券18,900円 (税込)
2日券+チュートリアル2回 (1、2)受講券34,650円 (税込)
情報交換会5,250円 (税込)
会場での弁当購入 各日1,050 円(税込)
主催
基調講演
Johanna Rothman (Rothman Consulting Group, Inc.)
「Successful Software Management: 17 Lessons Learned」
協賛
後援

・JaSST'10 Tokyo スポンサー協賛企業

ゴールドスポンサーシップ

・JaSST'10 Tokyo メディアスポンサー

写真:JaSST'10 Tokyo 実行委員会
(写真: JaSST'10 Tokyo 会場にて)