JaSSTソフトウェアテストシンポジウム

（金賞）
■"CoD : Chain of Defects"-要求仕様書のバグパターン

細川 宣啓 （日本IBM）

■all-pair法を応用した携帯電話組み込み用モバイルFeliCa ICチップファームウェアの評価に関する報告

太田 豊一 （フェリカネットワークス）

■定量的テスト完了判断基準の一考察

堀 明広 （ソフトウェア技術者ネットワーク）

「Identifying Testing Priorities through Risk Analysis」

Rick Craig 氏 （Software Quality Engineering）

テーマ：

「テスト技術の教育と社内展開」

パネルリーダ ：

• 秋山 浩一 （富士ゼロックス）

パネルメンバ ：

• 鈴木 三紀夫 （TIS）
• 佐藤 隆 （インテック）

（まとめ）

　「テスト技術の教育と社内展開」というテーマで、外部コンサルタントを上手く活用し、現場にCFD法を浸透させて成果をあげているインテックの佐藤氏と、 ソフトウェアのテスティングに関する社内教育をもっとも行っているであろうTISの鈴木氏を招き語っていただいた。パネルリーダはHAYST法の社内外展開を実施している富士ゼロックスの秋山氏がつとめた。
　まず、佐藤氏から600名を超える集合教育を実施したことと、その後のフォローから、集合教育だけでは現場では使えないことが判明し、「実践ワークショップ」により実プロジェクトへ適用して、 その結果を「実践ガイド」にまとめ社内公開しているとの報告があった。
　次に、鈴木氏から1300ページを超えるテスト技術教育資料を作成した話や、1200名を超える社内集合教育を自ら独力で実施したとの報告があり、パワフルな集合教育を実践例が熱く語られた。
　続いて秋山氏から「教育」と「社内展開」についての位置づけとまわし方について説明があった。ここでは、お客様からのOutcomeに基づく課題をCostで定量化して、その課題を解くための教育の必要性が語られた。
　その後、会場からの質疑応答になり、CMMIとの関連性についての質問があった。技術教育 （人材育成）とプロセス （組織力向上）は財務力向上を牽引する車の両輪であり今後も連携良く活動する必要があるだろう。

テーマ：

「テストはどのくらいやればいいのか？」

パネルリーダ ：

• 松尾谷 徹 （デバッグ工学研究所）

パネルメンバ ：

• Rick Craig （Software Quality Engineering）
• 保田 勝通 （つくば国際大学）
• 山浦 恒央 （日立ソフトウェアエンジニアリング）

（まとめ）

テスト担当者にとっては命題とも言える問いについて、今回講演を行っていただいたRick Craig氏、 保田氏、昨年パネルディスカッションのリーダを行っていただいた山浦氏の3名のパネリストによってディスカッションを行っていただいた。パネルリーダは松尾谷氏が務めた。
もっとも印象的な意見だったのは、山浦氏が口火を切った「正しい手の抜き方」のトピックである。
従来の考え方では、全テストケースを実行することが重要であった。しかし、リソースも時間も限られている状況において、膨大なテストケースをこなすことはもはや不可能である。 また、全てのテストケースを実行したとしてもバグは埋め込まれてしまう。このような現状を踏まえて、「バグは埋め込まれてしまうという」ことを認識した立場で、 数あるテストケースの中からサンプリングしてテストを行うのが「手を抜く」ということである。
もちろん、この考え方には前提がある。現状の品質レベルを把握することや最低限度品質の設定などがそれにあたる。 また、テスト実行の際もサンプリングし実行したテストケースのバグ数や影響度をしっかりと分析することも必要であるそうだ。
バグがどうやっても発生してしまうならば、発生してしまうバグのインパクトを小さくさせることが鍵となる。「バグは発生するもの」という立場に立てば、 効率的なテストの実行が考慮され今までより早い時間で市場へシステムをリリースできるかもしれない。
会場からも質問が上がったが、この考え方は品質重視から市場への対応力重視へとシフトさせる前提となり、テスト担当者がお客様のビジネスを意識して仕事をするっきっかけとなるかもしれない。

■Preventive Testing

Rick Craig （Software QualityEngineering）

■知識ゼロから学ぶソフトウェアテスト

高橋 寿一 （ソニー）

参加選手
（チーム）：

• えがぴ〜
  （豆蔵）

• 野村 圭
  （JaSST in Osaka実行委員会）

• ウィークリーミーティング
  （日本IBM）

実況・解説・
問題作成 ：
（協力/
(株)クラフトワン）

• 加藤 大受 （JaSST実行委員会）
• 大西 建児 （豆蔵）
• 宿口 雅弘 （JaSST in Osaka実行委員）
• 片山 徹郎 （宮崎大学）
• 増田 聡 （日本IBM）
• 吉澤 智美 （NECエレクトロニクス）

JaSST'05で「あるあるあるぅ〜！」と叫んだ貴方やそうでない貴方、お待たせいたしました。今年もやります「100人に聞きました」。
勿論司会はIT業界の関口宏こと、榊原彰。昨年同様、テストや開発で皆が感じていることをアンケートで集め、今年はS-open + QuaSTom合同チームとSESSAMEチームの対戦クイズ形式でお届けする１時間です。
楽しみながら世の「常識」を確認してみませんか？

司会 ：

• 榊原 彰 （日本IBM）

出場 ：

• S-open/QuaSTom選抜チーム
• SESSAME選抜チーム

Webセキュリティ - 設計編：
「Webシステムに必要なセキュリティ要件の組み込み」

丸山 司郎 （ラック）

Webセキュリティ - 検証編：
「これだけはやりたいWebシステムのセキュリティ検証」

加藤 大受 （JaSST実行委員会）

オープンソース・ツールを活用した組込みシステムのテスト改善

穴田 啓樹 （CATS）

テスト設計におけるモデリングのための記法の提案

西 康晴 （電気通信大学）

定量的テスト完了判断基準の一考察

堀 明広 （ソフトウェア技術者ネットワーク）

テストケース生成ツール「ＡＴＡＦ」による品質検証の試行と考察
−「直交表」を活用する−

辰巳 敬三／殿村 方規 （富士通）

バグのパターンを用いたテストの提案

河野 哲也 （電気通信大学）

教育を利用したテストプロセスマネジメントの改善

奥村 有紀子 （電気通信大学）

システム構築品質の定量評価事例

田中 良治 （日本IBM）

J2EEアプリケーション開発におけるビルド／テスト自動化への実践的アプローチ

北嵐 直樹 （日本IBM）

TDDを加速する擬似クラス生成方法

伊尾木 将之 （日本IBM）

アジャイル開発の得失
−代表９プロジェクトの開発体験を元に考察−

馬屋原 篤雄 （富士通）

JUnitから始める「トヨタ生産方式

和田 憲明 （富士通）

試験ケースの自動抽出

吉野 由紀夫 （CATS）

モデル検査の実務導入2つのアプローチ

早水 公二 （メルコ・パワー・システムズ）

モデル検査のデバッグへの適用

篠崎 孝一 （関西電力）

サービス連携システム向けテストツールの一提案

住友 千紗 （NTTデータ）

Webシステムテスト・ルネッサンス
−高品質と短納期の両立へ向けて−

林田 智也 （横河情報システムズ

不具合を分析して設計を駆動する

山田 大介 （リコー）

ビジネスリスク軽減のためのアプリケーション品質管理プロセス
〜マーキュリーが考える品質管理の最適化〜

鈴木 功彦 （マーキュリー・インタラクティブ・ジャパン）

フルライン検証サービス・静的サービスのご紹介
〜SQA最適化の実践〜

曽根 正彦 （ベリサーブ）

日産自動車におけるソフトウェア品質向上活動

菊池 光彦 （日産自動車）
提供：東陽テクニカ

マイコンコードで組み込みソフト単体自動テストを実現
「カバレッジマスター」のご紹介

高橋 圭一 （ガイオテクノロジー）

Visual Studio 2005で実現する高品質なソフトウェア開発

岩出 智行 （マイクロソフト）

Eclipse & TPTPを拡張したRationalの品質管理ポートフォリオのご紹介

冨永 康之 （日本アイ・ビー・エム）

失敗から学ぶ-Webアプリケーション性能管理成功の秘訣-

山岡 英明 （エンピレックス）

テスト／保守の工程を支援する-ＳＩＭＰＬＩＡ （シンプリア）シリーズのご紹介 （個人情報を含む実データをテストデータとして活用するために）

宮崎 欣也 （富士通）

組込みソフトウェア信頼性向上ソリューションご紹介
（コードレビュー、動的テスト、静的検証支援ツールご紹介）

植田 宏 （エーアイコーポレーション）

.NET開発でカバレッジ100％を実現

藤原祐之 （日本コンピュウェア）

あきらめていませんか？―テストの自動化―

渡邉 雅子 （日本ノーベル）

テスト自動化:ソースコードから、要求・デザインモデルから

浅野 義雄 （富士設備工業）

日程

2006年1月30日 （月）〜31日 （火）

場所

都市センターホテル （東京・永田町）

プログラム

こちらをご覧下さい。

参加費

1日券		5,250円 （税込）
2日間通し券		8,400円 （税込）
（　チュートリアルを受講される場合　）
1日券＋チュートリアル1回受講券		15,750円 （税込）
内容	・1日券+チュートリアル1　もしくは ・1日券+チュートリアル2
2日券＋チュートリアル1回受講券		18,900円 （税込）
内容	・2日券+チュートリアル1　もしくは ・2日券+チュートリアル2
2日券＋チュートリアル2回受講券		29,400円 （税込）
内容	・2日券+チュートリアル1・2

主催

• ソフトウェアテストシンポジウム実行委員会
• （TEF：ソフトウェアテスト技術者交流会）

協賛

• クリティカル・ソフトウェア・ワークショップ （宇宙航空研究開発機構）
• 情報処理振興機構 ソフトウェア・エンジニアリング・センター （IPA/SEC）
• ソフトウェア技術者ネットワーク （S-open）
• 電子情報通信学会 ソフトウェアサイエンス研究会
• 日本ソフトウェア科学会 ソフトウェア工学の基礎研究会
• ソフトウェア技術者協会
• プロジェクトマネジメント学会
• 日本品質管理学会 ソフトウェア部会
• 日本信頼性学会
• 情報サービス産業協会
• 日本システムハウス協会
• 日本科学技術連盟
• 情報処理学会SIG-SE
• 組込みソフトウェア管理者技術者育成研究会 （SESSAME）
• 高品質ソフトウェア技術交流会 （QuaSTom）
• 日本ネットワークセキュリティ協会