セッション A0概要
(JaSST Tokyo 実行委員会)
セッション A1概要
Jon Hagar （Grand Software Testing）
※同時通訳
講師プロフィール
Jon Hagar is a systems-software tester consultant and trainer supporting software product integrity, verification, and validation with a specialization in embedded, IoT, and mobile software systems at Grand Software Testing, LLC. He has worked in software, particularly testing for over thirty five years. Jon is the author of the book: Software Test Attacks to Break Mobile and Embedded Devices and working on a new book: IoT Testing. He is lead editor/author on numerous international standards including model-based testing, IEEE, and ISO 29119 testing. Jon presents at numerous conferences and classes with a web site at:
http://breakingembeddedsoftware.com/
Jon Hagar氏はシステムズソフトウェアテスターのコンサルタントであり、Grand Software Testing, LLCにて、組み込み、IoT、モバイルソフトウェアシステムを専門に、ソフトウェア製品の完全性、検証、妥当性確認をサポートするトレーナーです。ソフトウェア分野、特にソフトウェアテストに35年以上に渡って取り組んできました。
著書：
「Software Test Attacks to Break Mobile and Embedded Devices」
現在「IoT Testing」を執筆中。
リードエディター/著者としてモデルベーステストや IEEE、ISO 29119（testing）など数多くの国際標準を世に送り出し、また、多くのカンファレンスでの講演や講義を行なっています。詳しくは次のウェブサイトをご参照ください。
セッション G3概要
薮田 和夫 （南山大学）
湯本 剛 （日本ヒューレット・パッカード）
皆川 義孝 （クライム）
セッション G5概要
Jon Hagar （Grand Software Testing）
※逐次通訳
セッション A7概要
清水 浩 （e-Gle）
講師プロフィール
1947年宮城県生まれ。
慶應義塾大学 名誉教授
株式会社e-Gle(イーグル) 代表取締役社長
1975年 東北大学工学部博士課程単位取得退学。（博士号：工学博士）
1976年 国立環境研究所（旧国立公害研究所）入所。
1997年 慶應義塾大学環境情報学部教授
2013年 同 定年退職 名誉教授
2013年 株式会社e-Gle創立現在に至る。
著書
など。
セッション A8概要
モデレータ：
松岡 正人 （カスペルスキー）
パネリスト：
Jon Hagar （Grand Software Testing）
辰巳 敬三 （ASTER）
二木 真明 （アルテア・セキュリティ・コンサルティング）
吉澤 智美 （日本電気）
セッション B2概要
モデレータ：
山本 久仁朗
江川 さおり （ユーザベース）
パネリスト：
柿崎 憲 （ミクシィ）
境野 高義 （ガイアックス）
藤澤 正通 （ネクスト）
山本 健 （グリー）
セッション C2概要
モデレータ：
安達 賢二 （HBA）
池田 暁 （ASTER）
パネリスト：
薮田 和夫 （南山大学）
増田 聡 （日本IBM）
西 康晴 （電気通信大学）
セッション D2概要
モデレータ：
和田 卓人 （タワーズ・クエスト）
パネリスト：
川口 章 （ノーチラス・テクノロジーズ）
竹添 直樹 （ビズリーチ）
山本 裕介 （サムライズム）
セッション E2概要
阪上 直樹 （セガゲームス）
セッション F2概要
奥村 有紀子 （IPA）
根間 才治 （JaSST Tokyo 実行委員会）
セッション A4概要
外山 純生 （NTTソフトウェア）
長谷川 孝二 （フリーランス）
藤原 洋平 （ACCESS）
セッション B4概要
伊藤 隆広 （スクウェア・エニックス）
粉川 貴至 （セガゲームス）
西 康晴 （電気通信大学）
吉澤 智美 （日本電気）
伊藤 隆広 （スクウェア・エニックス）
セッション D4概要
太田 健一郎 （SHIFT）
永松 康能 （テルモ）
セッション E4概要
樽本 徹也 （利用品質ラボ）
セッション F4概要
五味 悠一郎 （日本大学）
セッション A5概要
テスト設計コンテスト'16 実行委員会
テスト設計コンテスト決勝戦出場チーム
セッション B5概要
モデレータ：
丹下 大 （SHIFT）
コーディネーター：
湯本 剛 （日本ヒューレット・パッカード）
パネリスト：
今井 真 （三菱UFJトラストシステム）
蟹江 英昭 （SBI証券）
渋江 利幸 （DNP情報システム）
セッション C5概要
永田 敦 （ソニー）
細谷 泰夫 （三菱電機）
和田 憲明 （JaSST Tokyo 実行委員会）
天野 勝 （JaSST Tokyo 実行委員会）
セッション D5概要
モデレータ：
山口 鉄平 （ヤフー）
パネリスト：
浅黄 友隆 （ヒューマンクレスト）
後藤 香織 （ベリサーブ）
玉川 紘子 （SHIFT）
松尾 和昭 （クックパッド）
セッション E5概要
モデレータ：
中野 直樹 （ネクスト）
パネリスト：
東 弘之 （ベリサーブ）
小山 竜治 （JaSST Tokyo実行委員会）
長谷川 聡 （JSTQB技術委員会）
セッション F5概要
奥村 有紀子 （IPA）
根間 才治 （JaSST Tokyo 実行委員会）
セッション A2-1（45分）概要
安達 賢二 （HBA）
セッション A2-2（45分）概要
湯本 剛 （筑波大学）
セッション C4-1（45分）概要
菊池 文矩 （電気通信大学）
セッション C4-2（45分）概要
池之上 あかり （ネクスト）
セッション A3（60分）概要
高木 陽平 （SHIFT）
セッション B3,B6（60分）概要
菅野 正行 （富士通）
セッション C3（60分）概要
蛭田 恭章 （ベリサーブ）
セッション D3-1（30分）概要
能戸 フレッド （MathWorks Japan）
セッション A6（60分）概要
西村 桂之 （SHIFT）
セッション C6（60分）概要
須原 秀敏 （ベリサーブ）
セッション D6-1（30分）概要
佐々木 方規 （JSTQB）
セッション A9概要
(JaSST Tokyo 実行委員会)
